2007年2月12日 星期一

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製程能力指數Cp&Cpk─2001.04

製程能力指數﹝Process capability index─傳統上簡稱為Cp﹞,係統計製程管制SPC的一個很重要的指標。代表著我們產品製程的品質有多好或不良率是多少。

自從1950年代SPC普及以來,大抵使用Cp這樣的一個能力指數,來反映品質水準的狀況。但遂著時間的推移,電子產業的興起,以前的品質水準不良率以百分比%為單位就足以勝任,因為電子元件的數量龐大,百分比的不良率不敷使用
,所以演化成以PPM為不良率的單位。同時更自1980年代因為美國的汽車產業也不堪日本汽車業的競爭,從而將製程能力指數修正成Cpk,近年來電子產業多以追求Cpk為準。

深究Cpk的內容,你會發現它不是什麼新東西,只是舊瓶新酒,只是過去在談論SPC時,大家都假設實際品質特性值的中心值是和目標值一致的。傳統品管上針對這個問題是以Ca處理,但通常都帶過未加以刻意強調。而時下流行的Cpk只是對舊有的Cp做了中心值的修正。

需要注意的是傳統上Cp時代,我們對製程能力指數的要求是Cp=1,易言之,良品率是99.73%,而多年前Cpk出現時要求的是Cpk=1.33,而這兩年則要求提升到Cpk=1.67。而當Cpk=1.63時即可進入個位數的PPM世界。
公差 T
Cpk=( 1 - K ) * --------------- = ( 1 - K ) *-------------
六倍標準差 6* σ

註:上式中K即早期的Ca,但中心值處理部分加絕對值。

在品管實務上,中心值的調整,並不是一件很困難的,因此也就疏於重視它。對所有從事品管工作的同好來說,如何縮小品質特性值的變異﹝標準差﹞簡直就是夢饜,也是最艱鉅的挑戰,還好有若干方法可用。大家一起努力吧!
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